20190419

L0M17 Half-Module with pinholes pulled

 

High Voltage Test

    (V) (uA)

    V:D/I:D

    50  0.36

    100 0.59

    200 0.95

    300 1.69

    340 3.80

    350 5.38

    

Low Voltage Test

        (V)     (A)

        V:D/I:D

Pre-Config

AVDD;   2.50    0.106

DVDD:   2.50    0.239

V125:   1.25    0.000

 

Post-Config

AVDD:   2.50    0.304

DVDD:   2.50    0.245

V125:   1.25    0.226

 

Bad Channel Table

        Sector B        Sector A

        pCH |   apvCH   |   128+apvCH   |   2*128-apvCH-1|  128-apvCH-1

        APV0

        0   |   0   |   128 |   255 |   127

        30  |   30  |   158 |   225 |   97

        49  |   49  |   177 |   206 |   78

        APV1

        165 |   37  |   165 |   218 |   90

        204 |   76  |   204 |   179 |   51

        APV2

        258 |   2   |   130 |   253 |   125

        337 |   81  |   209 |   174 |   46

        338 |   82  |   210 |   173 |   45

        344 |   88  |   216 |   167 |   39

        APV3

        399 |   15  |   143 |   240 |   112

        511 |   127 |   255 |   128 |   0

        Nlow: 11

       

0V Bias:

50V Bias:

 

 

Tests after being put into Module 2 Axial:

High Voltage Test

(V) (uA)

V:D/I:D

50  0.28

100 0.44

150  0.57

200  0.69

250  0.90

300  1.20

350  1.72

400  2.55

420  3.02

Beyond here it begins to condition

 

  • No labels